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李進福 (Jin-Fu Li)

學術專長與研究興趣：

人工智慧（AI）/物聯網（IoT）電路與系統設計
記憶體內運算（In-Memory Computing）
半導體記憶體設計與測試
三維積體電路/SOC設計與測試

現職與經歷：

中央大學電機工程學系特聘教授（2019/01~）
中央大學副研發長（2019/02~2025/01）
中央大學電機工程學系教授（2009/08~2018/12）
中央大學電機工程學系系主任（2013/08~2016/07）
中央大學電機工程學系副系主任（2010/08~2013/07）
中央大學電機工程學系副教授（2005/08~2009/07）
中央大學電機工程學系助理教授（2002/08~2005/07）
台灣積體電路設計學會 (TICD) 理事 (2024/08~)
中國工程師學會教育委員會委員(2025/02-2026/12)
工業技術研究院資通所兼任特聘研究員（2010/01~2010/12)
工業技術研究院電光所兼任特聘研究員（2024/04~2024/12 )
加州大學聖塔芭芭拉校區電機與電腦工程學系訪問學者(2006/07~2007/05）
教育部顧問室教改計畫SOC總聯盟前瞻教學平台辦公室執行秘書（2005~2006）
社團法人台灣評鑑協會評鑑委員 (2020)
科技部微電子學門專題計畫---審議委員（2019~2021）
IEEE Design & Test, Editorial Board Member (2015~)
中華民國證券櫃檯買賣中心上櫃審議委員（2014~）

學歷：

清華大學電機工程學系博士（1999/09~2002/07）
清華大學電機工程學系碩士（1997/09~1999/06）
台灣工業技術學院電機工程學系學士（1991/09~1995/06）

榮譽：

中央大學特聘教授（2019）
中國電機工程師學會(CIEE)傑出電機工程教授獎 (2015)
2013 IEEE VLSI Test Symposium Best Special Session Award (2014)
科技部優秀年輕學者計畫 (2013~2016)
第十二屆旺宏金矽獎（晶片設計）優勝獎 (2012)
99、106、108年度校教學傑出暨優良獎-院教學優良獎 (2011, 2018, 2020)
台灣積體電路設計(TICD)學會傑出年輕學者獎（2010）
CIC晶片製作優良設計獎 (2010)
CIC晶片製作佳作設計獎 (2009)
中央大學傑出研究獎 (2008~2018)
中國電機工程師學會(CIEE)優秀青年電機工程師獎 (2008)
96及99年度中央大學校優良導師獎 (2008, 2011)
菁英留學計畫--教育部九十三年度『國內大學校院自行選送人才出國研修』公費留學補助 (2005)
台灣積體電路設計學會（TICD）博士論文獎（2003)
教育部產學合作獎（2003)
高雄市立高雄高工傑出校友（2010）
屏東縣新園國中傑出校友（2018）
台灣東電化獎學金 (1994)

專業服務經驗：

會議大會主席、議程主席、Track Chair：
- Program Chair of 2010 VLSI Test Technology Workshop (VTTW 2010), YiLan, Taiwan
- General Chair of 2011 VLSI Test Technology Workshop (VTTW 2011), NanTou, Taiwan
- Program Chair of 2013 VLSI Design/CAD Symposium, Kaohsiung, Taiwan
- Contest Co-Chair of 2014 CAD Contest at ICCAD, San Jose, CA, USA
- Track Chair of 2012 and 2014 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS). (Track of Testing Technology)
- Track Chair of 2017 IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC). (Track of Test and Design for Testability)
- Program Chair of 2017 IEEE Asian Test Symposium, Taipei, Taiwan
- Track Chair of 2018 IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC). (Track of Test and Design for Testability)
- General Chair of 2022 IEEE Asian Test Symposium, Taiwan
- General Chair of 2023 VLSI Design/CAD Symposium, Kaohsiung, Taiwan
- Tutorial Chair of 2024 IEEE VLSI-DAT, Hsinchu, Taiwan.
- Steering Committee Member of IEEE Asian Test Symposium, 2023~
兼任顧問：
- 華邦電子股份有限公司兼任顧問 (2021/01~)
- 納星科技股份有限公司兼任顧問（2010/01~2010/07)
- 財團法人工業技術研究院系統晶片科技中心兼任顧問（2009/06~2009/12）
- 國立清華大學積體電路設計技術研發中心『前瞻網路安全處理器及相關SOC設計與測試技術研發三年計畫』兼任顧問（2002/09-2003/05）
受邀演講：
- 輔仁大學電子系 (Talk:Yield-Enhancement Techniques for RAMs)
- 勤益技術學院電子系 (Talk:Yield-Enhancement Techniques for RAMs)
- Dept. of ECE, UCSB (Talk: Memory Built-In Self-Repair, 2007)
- 2008 EDA workshop (Talk: ITC技術趨勢與心得分享)
- 經濟部工業局半導體產業推動辦公室（Talk: Architecture Design and Test of 3D Memories, 2009/05）
- 台灣科技大學電機系（Talk: 3D Integration System Chips---Opportunities and Challenges, 2010/03）
- 清華大學電機系（Talk: RAM Test Algorithms, 2010/03）
- 元智大學電機系（Talk: 3D Integration System Chips---Opportunities and Challenges, 2010/04）
- 工研院資通所（Talk: Testing of TSV-Based 3D ICs, 2010/05）
- 工研院資通所（Talk: Extensions of Current Test Standards for 3D ICs, 2010/09）
- 中原大學電子系（Talk: Introduction to 3D Integration Technology Using TSV, 2011/03）
- 工研院資通所（Talk: Challenges and Strategies of Testing and Repair for 3D RAMs, 2011/10）
- TSMC (Invited Talk on RD/DTP Technical Forum, Topic: Test and Yield-Enhancement Techniques for 3D ICs, 2012/05)
- EDA Forum（Talk: Test and Yield-Enhancement Techniques for 3D ICs, 2012/05）
- 工研院資通所策略規劃會議專題演講（Talk: Benefits and Applications of 3D ICs, 2012/07）
- 7th VLSI Test Technology Workshop (Invited Talk: Yield-Enhancement Techniques for 3D ICs, 2013/07)
- Taiwan Tech and Kyutech Advanced VLSI Testing Workshop (Invited Talk: Built-In Self-Repair Scheme for 3D RAMs, 2013/09)
- 台灣大學電子所 (Talk: Yield-Enhancement Techniques for 3D ICs, 2014/05)
- Kyutech, UT, and Taiwan Tech Joint Workshop (Invited Talk: Hybrid BIST Scheme for DRAMs, 2015/03)
- IMEC, Belgium (Talk: NCU's Research Activities in IC Design, 2016/05)
- Kyutech, UT, and Taiwan Tech Joint Workshop (Invited Talk: A BISR Scheme for DRAMs with Spares Using Hybrid Reconfiguration Mechanism, 2016/09)
- 清華大學資工系（Talk: Trend of System Architectures: Near-Data Processing, 2016/12）
- 工研院資通所（Talk: Low-Energy Design Techniques for Convolutional Neural Network, 2017/03/07）
- 工研院資通所（Talk: Overview of VLSI Hardware for Convolutional Neural Network, 2017/03/10）
- 淡江大學電機系（Talk: Low-Energy Design Techniques for Deep Neural Networks, 2017/11/22）
- 中正大學資工系（Talk: Low-Energy Design Techniques for Deep Neural Networks, 2018/01/08）
- AI Computing Workshop (Talk: ECC-Based Refresh Power Reduction Technique for DRAMs of DNN Systems, 2018/07/09)
- 台大電子所EDA Seminar(Talk: ECC-Based Refresh Power Reduction Technique for DRAMs of DNN Systems, 2019/03/18)
- 輔大電機系(Talk: Hybrid Voting and ECC Refresh Power Reduction Method for DRAMs of DNN Systems, 2020/03/25)
- 2020 VLSI Test Technology Workshop (VTTW) (Keynote: Leveraging Intrinsic Fault Tolerance of Neural Network for Designing Acceleration Systems: Opportunities and Challenges, 2020/07/28)
- 芯測(Talk: Testing of ReRAM and In-Memory Computing Memories, 2020/12/1)
- 華邦電子(Talk: Testing of In-Memory Computing Memories, 2020/12/22)
- 華邦電子(Talk: Redundancy Analysis Algorithms for Memory Repair, 2021/2/2)
- 華邦電子(Talk: Test and Yield-Enhancement Techniques for 3D ICs, 2021/3/23)
- 華邦電子(Talk: Test Algorithms and BIST Design for DRAMs, 2021/4/27)
- 華邦電子(Talk: Testing of Flash Memories, 2021/5/25)
- 華邦電子(Talk: Test Data Analysis for Test Time Reduction and Yield Improvement, 2021/7/6)
- Mediatek (Talk: Test Challenges and Strategies for Chiplet-based ICs, 2022/07/05)
- 台大重點科技研究院(Talk: Testing and Reliability of Computing-In Memories, 2023/03/13)
學術會議授課(Tutorial Speaker):
- VTTW 2007 (Topic: Yield and Reliability-Enhancement Techniques for RAMs)
- IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference 2010 (Embedded tutorial: Is 3D Integration an Opportunity or Just a Hype?)
- IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 2017 (Embedded tutorial: Deep Neural Network Design and Applications on Testing)
- IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 2020 (Tutorial: Testing of In-Memory-Computing Memories)
學術會議座談引言人（Panelist）:
- VTTF2003測試產學座談 (Topic: 晶片偵錯之挑戰與回應)
- VTTF2007 (Topic: How do you improve your research publications? Organizer: Prof. Cheng-Wen Wu)
- VTTF2008測試產學座談 (Topic: SiP Test: Issues and Challenges)
- VTTF2009測試產學座談 (Topic: Challenges and Strategy in KGD Test)
- IEEE Asian Test Symposium 2009 (Topic: Testing embedded memories in the nano-era: will the existing approaches survive? Organizer: ir. Said Hamdioui; Panelists: Cheng-Wen Wu, Ad J. van de Goor, Shianling Wu, and Jin-Fu Li)
- VTTF2012 (Topic: 如何當一位好的學術單位主管? Organizer: Prof. Cheng-Wen Wu)
- VLSI Test Technology Workshop 2012 (Topic: Is BIST in more demand? Organizer: Prof. Mango C.-T. Chao; Panelist: Kwang-Ting Tim Cheng, Rei-Fu Huang, Ting-Pu Tai, Soon-Jyh Chang, Jin-Fu Li)
- TICD 101年第二次測試策略產學座談會 2012（Topic: Evolution and Challenges of 3D IC Testing）
- VTTF 2015/09 (Topic: Why PhD Students Are Vanishing? Organizer: Prof. Cheng-Wen Wu; Panelist: Ming-Der Hsieh, Jin-Fu Li, and Po-Yuan Chen)
學術會議議程委員（Technical Program Committee Member）:
- Intelligent Living Technology Conference, 2006, 2011, and 2012
- National Computer Symposium, 2007
- IEEE International Symposium on Computer, Consumer and Control (IS3C), 2012
- IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS), 2012 and 2014
- IEEE TENCON 2012
- IEEE Asia Symposium on Quality Electronic Design (ASQED), 2015
- IEEE International Conference on VLSI Design, 2016~2017
- IEEE International Conference on Embedded Systems, 2016~2017
- VLSI Test Technology Workshop (VTTW), 2008~
- VLSI Design/CAD Symposium, 2014~
- IEEE Asian Test Symposium (ATS), 2009, 2013~
- IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), 2011, 2017~2019
- International Conference on Parallel Computing (ParCo), 2011~
- IEEE International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2015~
- IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2017~
- IEEE International Conference on Computer Aided Design (ICCAD), 2018~2019
- IEEE VLSI Test Symposium (VTS), 2020~
- IEEE International Test Conference (ITC), 2022~
- IEEE VLSI-DAT, 2024~

學術會議Special Session & Panel Organizer：

IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) 2010 (Topic: Is 3D Integration an opportunity or just a hype; Orgnizers: Cheng-Wen Wu and Jin-Fu Li)
TICD 101年第一次測試策略產學座談會（Topic: Test and Reliability Challenges of Logic-Memory Stacked 3D ICs）
IEEE VLSI Test Symposium (VTS) 2013 ( Hot Topic: 3D-IC Design and Test; Organizers: Jin-Fu Li and Cheng-Wen Wu)
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) 2014 (Special Session: 2014 CAD Contest; Organizers: Iris Hui-Ru Jiang, Natarajan Viswanathan, Tai-Chen Chen, and Jin-Fu Li)
Organizer of Industry Session of 2015 IEEE Internatioanl Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)
Organizer of 2022 IEEE ITC-Asia Special Session (Session Title: Test and Reliability of Computing-in-Memories)
Organizer of Special Session entitled "Testing, Reliablity, and Hardware Security of Computing-in Memories" in the 36th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), Juan-Les-Pins, France, 2023.

學術會議組織委員（Organization Committee Member）：

第十六屆VLSI/CAD研討會之課程主席（2005）
Publication Chair of IEEE Int'l Workshop on Memory Technology, Design, and Testing（2005、2006、2009）

學術會議Talks與Technical Session主持人：

VLSI/CAD Technical Session Chair（2005, 2010）
2008 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (Session Chair)
2008/2009/2017 VLSI Test Technology Workshop (Session Chair)
2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (Chair of Invited Talk)
2011 IEEE Internatioanl Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) (Session Chair)
2016 IEEE Asian Test Symposium (Session Chair)
2017 IEEE International Test Conference in Asia (Session Chair)
2018 IEEE Asian Test Symposium (Session Chair)

教育部計畫：

教育部前瞻晶片系統設計人才培育先導型計畫—前瞻課程非同步教材製作計畫（測試課程—半導體記憶體測試）(2007~2009)
教育部顧問室超大型積體電路教育改進計畫--DAT聯盟SiP設計自動化課程主持人(2008~2011)
教育部顧問室超大型積體電路教育改進計畫--DAT聯盟學生學習論壇主持人(2008~2011)
國際積體電路電腦輔助設計軟體製作競賽主持人 (2014)

學術組織會員及委員：

IEEE及IEEE Computer Society 會員 (2003~）
中國電機工程學會永久會員
台灣積體電路設計學會永久會員
VLST Test Technology Forum（VTTF）會員
經濟部半導體產業推動辦公室3D IC Test SIG會員 (2009~2011)
經濟部半導體產業推動辦公室3D IC SIG--3D IC Forum榮譽會員 (2010)
中國電機工程學會論文委員會委員(2014~2019)

中央大學電機系IC設計產業研究碩士專班主持人（2006.02~2008.01）

經濟部半導體產業推動辦公室3D IC Test SIG:Chair of Test Interface WG (2009~2010)

校外授課：

中原大學資工系 (Short Course: SOC Testing)
清華大學電機系 (Short Course: Memory Built-In Self-Repair; Content Addressable Memory Testing; RAM Fault Models and Test Algorithms)
台灣大學電子所 (Short Course: Memory Testing)
自強基金會 (Short Courses: Memory Testing, Memory Built-In Self-Repair, VLSI Design, etc.)
台大慶齡中心 (Short Courses: SOC Testing, VLSI Design)
華邦電子教育訓練課程（自強基金會主辦）
EDA聯盟課程發表 (Short Course: Yield and Reliability Enhancement Techniques for RAMs, 2005)
納星科技股份有限公司 (Course: Semiconductor Memory Testing, 2010)
工研院資通所(Course: Design-for-Testability of VLSI Circuits, 2011)
聯詠科技股份有限公司 (Course: Built-In Self-Test/Self-Diagnosis for RAMs, 2011)
聯詠科技股份有限公司 (Course: SRAM Architecture, BIST, and BISR, 2012)
工研院資通所(Course: VLSI Testing, 2014)
交大電子系人才培訓中心（Course: SOC & 3D IC Test Architectures, 2015）
聯詠科技股份有限公司 (Course: Design-for-Testability Techniques for Digital Circuits and Memories, 2015)
交大電子系人才培訓中心（Course: SOC & 3D IC Test Architectures, 2016）
交大電子系人才培訓中心（Course: Embedded Memory Testing and Repair, 2016）
交大電子系人才培訓中心（Course: Embedded Memory Testing and Repair, 2017）
力晶科技（Course: Testing for Digital Circuits, 2017）
自強基金會-晉江（Course: Embedded Memory Testing, 2017）
英特爾創新科技股份有限公司(Course: Testing of Integrated Circuits, 2022)

指導學生獲獎:

獲思源科技教育基金會(思源科技股份有限公司贊助) IEEE International Test Conference (ITC) 論文獎 (2006)
95年度大學院校矽智產(SIP)設計競賽佳作 (2007)
European Test Symposium (ETS) 2006論文被IET Proc. Computers and Digital Techniques期刊選為Best Selected Papers from ETS'06 (2007)
獲思源科技教育基金會(思源科技股份有限公司贊助) IEEE International Test Conference (ITC) 論文獎 (2008)

CIC晶片製作佳作設計獎 (2009)

CIC晶片製作優良設計獎 (2010)

指導學生陳亭如獲得99年度台灣積體電路設計學會碩士論文獎(2011)

指導學生曾子維獲得100年度台灣積體電路設計學會博士論文獎(2012)

指導學生侯致聖獲得第十二屆旺宏金矽獎優勝獎(2012)

指導學生周哲緯獲得102年度台灣積體電路設計學會碩士論文獎(2014)

指導學生張志銘及李亭慧獲得2015國際積體電路電腦輔助設計(CAD)軟體製作競賽國內賽優等(2015)

指導學生鄭佳文、璩瑋、王培馨獲得104學年度中央大學資電學院專題競賽優等，題目：物聯網--智慧紅綠燈(2016)

指導學生田繹、浦敬群獲得104學年度中央大學資電學院專題競賽佳作，題目：車聯網--防追撞裝置(2016)

指導學生謝明澔、陳涵均、李蕎芸獲得106學年度中央大學資電學院專題競賽優等，題目：聽見你的真心(2018)

指導學生江子杰獲得106學年度中央大學資電學院專題競賽佳作，題目：深度神經網路模型的加速與壓縮---單神經元獨立壓縮法 (2018)

指導學生蔡采玲獲得 2019 IEEE Defect and Fault Tolerance on VLSI Systems and Nanotechnology Symposium--Best Student Papers Award (2019)

指導學生何芝儀、蕭瑋誠獲得108學年度中央大學資電學院專題競賽優勝，題目：看見手語的聲音---手語及時辨識APP (2020)

指導學生王綰晴、李相程、李庭緯獲得108學年度中央大學資電學院專題競賽佳作，題目：浪北鼻回家 (2020)

指導學生李冠霈、林妤蒨獲得2020新創千里馬電梯簡報潛力獎，題目：動眼科技(2020)

指導學生王綰晴、李相程、李庭緯獲得2020新創千里馬電梯簡報潛力獎，題目：浪北鼻回家 (2020)

Chih-Li Hsiao, Hsiu-Wei Chen, Shih-Hsu Huang, and Jin-Fu Li,"A Machine Learning-based power prediction framework for DCIM circuits", COOL Chips 28, 2025 (Best Poster Award).